Groupe CSAM : Caractérisation radiofréquence multi-échelle
L’axe caractérisation radiofréquence multi-échelle pour les systèmes et capteurs affiche aujourd’hui une dimension européenne à travers des projets européens (ELENA, GRINSHIELD) et l’EPM (European Partnership on Metrology), mais également internationale avec des collaborations pérennes avec l’UCI (University California Irvine). Les activités de cet axe concernent le contrôle non-destructif hyperfréquence. Les méthodologies et architectures mises en œuvre permettent des analyses plus précises et fiables des matériaux et des structures. De manière significative, ces développements intègrent une approche multi-échelles de dimension, permettant des caractérisations jusqu’à l’échelle nanométrique, où il s’agit de mesurer des variations de capacité de quelques atto-Farad.
Ainsi, cet axe contribue continument au développement d’équipements de mesure novateurs et en rupture avec une expertise reconnue à l’échelle internationale. Ces approches impulsent également le développement de capteurs micro-ondes innovants qui intègrent un panel de technologies allant des technologies planaires, des circuits intégrés aux technologies guide d’onde. De part leur polyvalence et leur portabilité, ces capteurs adressent un large éventail applicatif (transports, agronomie, etc…)
Développement d’équipements de mesure novateurs et en rupture
Le développement d’équipements de mesure novateurs et en rupture contribue à l’avancement de la recherche dans le domaine du contrôle non destructif hyperfréquence. En collaborant avec des partenaires régionaux, nationaux et internationaux, le groupe crée des instruments de pointe qui repoussent les limites actuelles. Ces avancées scientifiques ont un impact direct sur la qualité des mesures effectuées, permettant ainsi des analyses plus précises et fiables des matériaux et des structures. De manière significative, ces développements intègrent une approche multi-échelles, permettant des caractérisations jusqu’à l’échelle nanométrique. Cette capacité à explorer et à mesurer sur une gamme aussi étendue d’échelles dimensionnelles ouvre de nouvelles perspectives de compréhension et d’analyse des phénomènes physiques et des propriétés des matériaux. En effet, en passant des caractérisations macroscopiques aux investigations à l’échelle nanoscopique, le groupe élargit considérablement le spectre des applications potentielles de ses équipements de mesure. Cette approche constitue l’un des atouts du groupe dans le domaine du contrôle non destructif hyperfréquence.
Interface nanoélectronique très large bande vers l’intérieur des cellules vivantes, intégrant la lecture de fluorescence de l’activité métabolique (Collab. UCI – P. Burke)
Conception de capteurs hyperfréquences adaptés à des contingences hors laboratoire
La conception de capteurs hyperfréquences adaptés à des contingences hors laboratoire répond à un besoin croissant de solutions de mesure portables et polyvalentes. Les capteurs, développés par le groupe CSAM en collaboration avec des partenaires industriels et académiques, trouvent des applications dans divers domaines, allant de la caractérisation de matériaux ou de composants à la surveillance de l’environnement ou la santé. Sur le plan scientifique, ces capteurs permettent d’explorer de nouveaux domaines de recherche et d’acquérir des données en temps réel dans des environnements variés et contraints. Les capteurs développés intègrent un panel de technologies allant des technologies planaires, des circuits intégrés aux technologies guide d’onde. Des capteurs sont conformés également pour répondre à une application particulière. Des aspects d’étalonnage spécifiques et des modélisations analytiques ou/et électromagnétiques permettent d’extraire les grandeurs d’intérêt des données mesurées. Les systèmes sont automatisés pour permettre des mesures en défilement. Cette automatisation est orientée vers la fiabilité et la reproductibilité des mesures, avec pour objectif d’en réduire le coût opérationnel et d’augmenter l’efficacité des processus de collecte de données. La polyvalence et la portabilité de ces capteurs les rendent attrayants pour un large éventail d’applications.
Capteurs impliquant différentes approches technologiques
