Depuis plus de 25 ans, différentes compétences et techniques expérimentales ont été développées au sein du pôle.
Ses compétences s’appliquent sur une très grande variété de composants hyperfréquences passifs (antennes, MEMS …) et actifs (nanodispositifs, HBT sur InP, HEMT AsGa, InP, HEMT GaN et métamorphique AsGa, MOSFET Si …).
Mais aussi, sur des dispositifs plus complexes intégrant des fonctionnalités (MMICs, amplificateur faible bruit, échantillonneur rapide…).
Le pôle de nano-caractérisation RF & MEMS certifié ISO8 regroupe sur 900m2 les moyens communs de l’IEMN permettant la caractérisation des principaux paramètres électriques de composants et sous-systèmes électroniques dans une large gamme de fréquences.
La plupart des bancs de mesures sont modulables afin de répondre au mieux aux besoins de la recherche. Les ingénieurs du pôle développent les bancs dans un souci d’amélioration continue afin de travailler en adéquation avec les innovations technologiques.
Le pôle permet la caractérisation électrique vectorielle ou scalaire :
- Du DC aux fréquences THz
- En température (mesures cryogénique, ambiant, 500 K)
- Sous éclairement laser ou solaire
- Sous pointes coplanaires (on-wafer), en coaxial ou espace libre
- En régime non linéaire et ce, entre autres, pour l’étude de :
- Dispositifs ultra-rapides, transistors
- Circuits
- MEMS
- Le couplage à des techniques de champ proche ou de spectroscopie permet la caractérisation :
-
- De matériaux 2D
- De micro-nano composants
- De gaz, liquides, solides
Certaines expériences ont été conçues dans le but de tester électriquement les composants dans des conditions « rudes » telles qu’à basse température (5,5K) ou encore sous haute-tension (10kV).
L’expertise en caractérisation de dispositifs ultra rapides est reconnue internationalement et permet au pôle de jouer également un rôle très important dans les laboratoires communs créés entre l’IEMN et divers industriels français (THALES et ST Microélectronics) ou centres de recherches régionaux, nationaux ou étrangers.
Organisation
L’équipe technique composée de quatre ingénieurs expérimentés dans le domaine de la caractérisation électriques et des mesures hautes fréquences, accueille plus de 23 groupes de recherche, soutient une start-up et différents projets de valorisation.
On identifie dans ce pôle 7 grands domaines d’expertise :
- Statique – Petit Signal – Bruit
- Non Linéaire – Thermographie
- Nano caractérisation
- MEMS
- Photonique microonde MIR THz
- Quasi-optique/Millimétrique
- Mesures en Température
Contact : Sophie ELIET, responsable du pôle Caractérisation Hyperfréquence, Optique et Photonique
sophie.eliet@univ-lille.fr
Tel. 03 20 19 79 30
Mots-clefs : Caractérisation électrique, Hyper-fréquences, micro-ondes, millimétriques, TeraHertz, MEMS, matériaux 2D, nano-composants.