Les 5 instruments Ultra-vide (UHV) de l’IEMN couvrent une large gamme de caractéristiques permettant de répondre aux demandes les plus pointues des scientifiques dans les domaines des nanosciences, de l’électronique ou des technologies de rupture.
Capables d’imager et d’analyser les propriétés de toute surface à l’échelle atomique, ces microscopes sont installés dans des bâtis UHV dotés de moyens de préparation et d’analyse annexes. Ces dispositifs permettent de mener une étude complète in-situ, de l’élaboration à la caractérisation d’un échantillon.
Exemples d’équipements : Omicron RT-STM, VT-AFM/STM, LT-STM, Nanoprobe. SPECS JT-AFM/STM. Laser Ti:Sapphire Spectra-Physics Mai-Tai HP.
Expertises et savoir-faire: points marquants
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Croissance d’une monocouche de silicene sur Ag(111) et étude combinée STM, STS (T=77K), LEED et Raman.
Préparation in-situ d’échantillons, dépôt et croissance de nanostructures, analyse combinée de surfaces par spectroscopie AUGER, diffraction d’électrons lents (LEED) et STM
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Mesure des transferts de charge entre nanocristaux dopés et leur environnement par KPFM
Analyse topographique et spectroscopique sur tous types de matériaux, à l’échelle atomique, sur une large gamme de températures (1 à 500K), sous champ magnétique (3 Teslas) par microscopie AFM, STM, EFM, KPFM
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Mesure STM et STS (T=4K) du coefficient de capture d’un état quantique isolé (liaison pendante sur une reconstruction de la surface (111) de silicium dopé bore)
Nanomanipulation, transport électronique multi-échelles, analyse couplée MEB/STM multipointes sur des systèmes complexes (hétérostructures, composants) et matériaux de faible dimensionnalité individuels (matériaux 1D : nanofils, nano-poutres, nano-ressorts ; matériaux 2D : graphène, silicène, etc.)
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Étude combinée: mesure 4 pointes du transport électronique à l’échelle nm dans des nanofils InAs isolés + dépôt et imagerie STM à l’échelle atomique de nanofils InAs
Dépôt de nanofils et de molécules organiques
Autres expertises
- Cryo-magnéto-transport (7 Tesla, 4K)
- Développement instrumental, couplage de techniques : AFM/MEB, Laser femto-seconde/STM/MEB, Raman/STM en UHV
- Croissance de matériaux 2D et de nanostructures sur demande
- Analyse chimique des surfaces par Auger et LEED
- Raman sous ultra Vide
Contacts :
Maxime BERTHE (STM, STS, Nanoprobe/4 pointes)
maxime.berthe@iemn.fr 03 20 19 78 63Sylvie GODEY (STM/AFM, KPFM)
sylvie.godey@univ-lille.fr 03 20 19 78 64
Domaines applicatifs : Topographie, Nanocaractérisation physique
Mots clés : AFM, CAFM, PFM, SthM, EFM/KPFM, Nanomechanique
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