Microscopie et caractérisation MIR-THz
Le SNOM MIR-THz est un banc de mesures optiques champ proche permettant l’acquisition d’images respectivement dans le domaine du moyen infrarouge et du TéraHertz avec une résolution spatiale de l’ordre de 30 nm (limitation par la taille de la pointe AFM). Pour cela deux sources lasers actuellement sont disponibles : un laser à cascade quantique à 10µm et un laser moléculaire THz pompé par un laser à CO2 .
Cette technique est bien adaptée pour l’étude qualitative de matériaux 2D tels que le graphène, les nanostructures électroniques moléculaires, les matériaux dopés (même faiblement) ou encore l’étude de guides d’ondes induits par inscription laser dans des verres.
Contacts : Jean-François LAMPIN jean-francois.lampin@isen.iemn.univ-lille1.fr 03 20 19 79 11
Sophie ELIET sophie.eliet@iemn.univ-lille1.fr 03 20 19 79 30
Cet équipement a été acquis et développé dans le cadre de l’Equipex Excelsior.
Microscopie Micro-Ondes (SMM)
Le laboratoire a fait l’acquisition d’un AFM 5600 Keysight, couplé à un interféromètre développé à l’IEMN, pour faire de la microscopie en champ proche micro-onde permettant ainsi de cartographier les paramètres S de composants électroniques entre 2 et 18 GHz. Ce SMM est bien adapté pour la mesure de faibles capacités avec une résolution de 0,5 aF.
Contacts : Didier THERON didier.theron@iemn.univ-lille1.fr 03 20 19 78 26
Kamel HADDADI kamel.haddadi@iemn.univ-lille1.fr 03 20 19 79 20