Near Field Microscopy cluster (PCP)

Le pôle champ proche réunit les moyens dédiés à l’analyse topographique, physique et électrique de surfaces jusqu’à l’échelle atomique.

L’apparition de cette technique d’investigation directe à l’échelle nanométrique est à l’origine de l’émergence des nanosciences et des nanotechnologies. Dès sa création en 1993, l’IEMN a décidé de se doter de ces équipements pour imager, manipuler et caractériser atomes et objets nanométriques. Le pôle est installé sur 400m² dans un bâtiment dédié, achevé en 2015, offrant des conditions expérimentales exceptionnelles.

Nos instruments couvrent un large spectre de possibilités pour la mesure directe de phénomènes à l’échelle nanométrique : AFM à l’air et modes dérivés, AFM/STM en Ultra-vide, nano-manipulation, mesures (multi-pointes) de transport à l’échelle nanométrique, combinaison MEB/STM/AFM. Le pôle de microscopie en champ proche est dévolu au support des activités de recherche de l’IEMN; il est également ouvert à toute demande externe de prestation ou collaboration, académique ou industrielle, via le réseau RENATECH.