Le pôle caractérisation in-line de la CMNF dispose de plusieurs équipements permettant d’accéder aux principales propriétés optiques et spectroscopiques des couches, nanostructures ou composants réalisés dans la plateforme.
Nos 2 ellipsomètres spectroscopiques (Horiba) donnent accès dans une large gamme de longueurs d’ondes (200nm à 2µm) aux indices optiques complexes d’empilements de couches minces, en mode localisé ou cartographie. Ils permettent également d’évaluer d’autres paramètres tels que valeurs de bandes interdites des matériaux,…
Plusieurs techniques spectroscopiques standard sont également accessibles afin de déterminer absorptions optiques, réflectivité, photoluminescence,…Nous sommes également équipés d’une plateforme de caractérisation de couches photovoltaiques, avec notamment la cartographie de photo-courant induit et réflectivité.
A photoluminescence measurement bench equipped with an argon ionized laser and a YAG laser (Spectra-Physics) allows to work on low or wide band gap materials, at low temperature or at room temperature, in 'classical' photoluminescence or in photoluminescence excitation (see website of the EPIPHY group).
A photoluminescence measurement bench equipped with an argon ionized laser and a YAG laser (Spectra-Physics) allows to work on low or wide band gap materials, at low temperature or at room temperature, in 'classical' photoluminescence or in photoluminescence excitation (see website of the EPIPHY group).
Un nouveau spectromètre infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) à trois gammes MIR/NIR/FIR – Perkin Elmer s’étend dans la gamme spectrale de 15000 cm-1 à 30 cm-1. Il comprend différents accessoires disponibles pour l’analyse des matériaux (solides ou liquides) ou des surfaces (films moléculaires, polymères) via différentes techniques : mode transmission, mode ATR, réflexion spéculaire à angle variable.
