Le banc de caractérisation optoélectronique micro-onde est composé principalement d’un système de visualisation et de positionneurs permettant la caractérisation électrique dynamique « sous pointe » de composants (opto-) électroniques sous illumination optique de puissance constante ou modulée. En utilisant l’instrumentation disponible sur la plateforme, il est par exemple possible sur ce banc :

• de mesurer sous pointe les caractéristiques électriques en petit signal (paramètre S) jusqu’à 320 GHz de composants sous illumination continue
• de mesurer le bruit de composants sous illumination continue jusqu’à 50 GHz
• d’effectuer la caractérisation fréquentielle de la photoréponse de photodétecteur rapides. Les longueurs d’ondes optiques accessibles sont autour de 400nm, 800 nm, 1000 nm ,1300  nm et 1550 nm

Un laser femto seconde à haut taux de répétition, permet également d’effectuer des mesures avec un sampling de 1 GHz.

La centrale possède également différentes sources optiques (QCLs 10µm, laser THz à gaz…) et détecteurs associés (Bolomètre InSb refroidi à 4K, détecteur MCT).

Ces équipements ainsi que  l’expertise  complémentaire des chercheurs de l’IEMN et des ingénieurs de la plateforme permettent par exemple la caractérisation de matériaux absorbants  pour ces domaines de fréquence ou encore de l’imagerie champ proche. Ils permettent également la caractérisation de sources extérieures à la plateforme via hétérodynage.

Contacts : Emilien PEYTAVIT emilien.peytavit@iemn.univ-lille1.fr 03 20 19 78 76
Jean-François LAMPIN jean-francois.lampin@isen.iemn.univ-lille1.fr 03 20 19 79 11
Vanessa AVRAMOVIC vanessa.avramovic@iemn.univ-lille1.fr  03 20 19 79 30
Sophie ELIET sophie.eliet@iemn.univ-lille1.fr 03 20 19 79 30