Le banc de caractérisation optoélectronique micro-onde est composé principalement d’un système de visualisation et de positionneurs permettant la caractérisation électrique dynamique « sous pointe » de composants (opto-) électroniques sous illumination optique de puissance constante ou modulée. En utilisant l’instrumentation disponible sur la plateforme, il est par exemple possible sur ce banc :
- de mesurer sous pointe les caractéristiques électriques en petit signal (paramètre S) jusqu’à 320 GHz de composants sous illumination continue
- de mesurer le bruit de composants sous illumination continue jusqu’à 50 GHz
- d’effectuer la caractérisation fréquentielle de la photoréponse de photodétecteur rapides. Les longueurs d’ondes optiques accessibles sont autour de 400nm, 800 nm, 1000 nm ,1300 nm et 1550 nm
Un laser femto seconde à haut taux de répétition, permet également d’effectuer des mesures avec un sampling de 1 GHz.
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