Séminaire Prof. Ludger WIRTZ

Optical and vibrational properties of MoS2
Ludger WIRTZ
Physics and Materials Science research unit, University of Luxembourg
26/11/2013 à 11h00 – Salle du Conseil – IEMN

Following the hype on graphene, other layered materials are recently achieving a lot of attention.
One of them is molybdenum disulfide. Contrary to graphene, MoS2 has a band-gap of about 2 eV
and might thus be a suitable candidate for electronics and optics applications. I will give an
overview over the properties of the material and summarize the ongoing debate on the mobility of
the material. I will also present our own recent work on the phonon dispersion of of bulk and fewlayer
MoS2, where the origin of the anomalous Davydov splitting is still not ultimately clarified.
Furthermore, I will discuss the influence of excitonic effects and spin-orbit splitting on the optical
properties of MoS2.

Séminaire Prof. Mandler

« Chemistry and Electrochemistry in Two Dimensions: from Langmuir Blodgett Films to Monolayers and Polymeric Films »
Prof. Daniel MANDLER
Daniel.mandler@mail.huji.ac.il
Institut of Chemistry, The Hebrew University of Jerusalem, Israel
27/11/2013 à 14h00 – Salle du Conseil de l’IEMN

 

Electrochemistry deals with charge transfer across interfaces. As is well known, the structure of the interface affects very much charge transfer and therefore controlling and characterization the interface on a molecular level is of utmost importance.
The lecture will focus on different approaches for controlling the interface and its implications and applications in electrochemistry. These will include structuring the interface using Langmuir and Langmuir-Blodgett films, applying self-assembled monolayers and if time permits manipulating thin polymeric films. Different systems and applications will be presented; films at the water-air interface based on individual molecules, polymers and nano-objects. Applications of functionalized self-assembled monolayers as a means of selectively interacting with metal ions and organization of asymmetric nano-objects for future photocatalysis, will be described. Various characterization methods will also be discussed such as horizontal touching voltammetry and scanning electrochemical microscopy.



Séminaire Prof. KADRI Abderrahmane

« Les activités de recherche et de formation au Laboratoire LEMOP, Université d’Oran, Algérie
Initiation d’un projet de coopération sur les cellules photovoltaïques solaires InXGa1-XN/GaN »
Prof. KADRI Abderrahmane
Laboratoire d’Etude des Matériaux Optoélectronique et Polymères (L.E.M.O.P.)
Département de Physique, Faculté de Sciences Exactes et Appliquées, Université d’Oran, Algérie
21/11/2013 – Salle du conseil – IEMN

Summary:
Dans cet exposé, je présenterai les activités de recherche et de formation au sein du Laboratoire d’Etude des Matériaux, Optoélectronique et Polymères (L.E.M.O.P.) à l’Université d’Oran en Algérie. Je présenterai plus particulièrement les activités de coopération de notre laboratoire, dont le projet de recherche en cours d’initiation avec l’équipe du Professeur N. ROLLAND et du Dr F. MEDJDOUB à l’I.E.M.N. C.N.R.S. sur les cellules photovoltaïques solaires à hétéro-structures p-i-n à Multi-puits Quantiques InXGa1-XN/GaN.

Les transistors 0D récupèrent l’énergie perdue lors de l’émission de bulles d’hydrogène

Un transistor 0D est placé en contact avec une goutte d’eau contenant du NaCl. Un courant entre l’anode et la cathode génère des bulles d’hydrogène et de chlore, que le transistor peut détecter et transformer en impulsions électriques. N. Clément et al. © American Chemical Society

 

Lorsque l’hydrogène est produit lors de l’électrolyse de l’eau, de l’énergie est perdue à chaque émission de bulle. Dans une nouvelle étude, des chercheurs du CNRS, IEMN, Villeneuve d’Ascq, NTT, Tokyo et du CEA Marcoules ont démontré que des transistors de 25 nm – si petits qu’ils sont considérés 0D – peuvent être utilisés pour transformer cette énergie perdue en impulsions électriques. Plusieurs millions de ces transistors 0D pourraient être utilisés pour détecter des bulles uniques et générer des impulsions avec une efficacité optimale, en récupérant une partie de l’énergie perdue lors de l’électrolyse et en la rendant utilisable pour d’autres applications. En théorie, 2 millions de ces transistors 0D pourraient tenir sous la microbaignoire, ce qui résulterait en des impulsions de 500 µW et un rendement d’émission d’impulsions d’environ 99%.

Ces résultats pourraient avoir une variété d’applications, comme des laboratoires sur puce pour le stockage d’hydrogène. Une autre potentielle application est la physiologie, le signal électrique ayant une amplitude similaire à celle du potentiel d’action dans un neurone.

Cet article a été publié dans Nanoletters.  : Water Electrolysis and Energy Harvesting with Zero-Dimensional Ion-Sensitive Field-Effect Transistors. N. Clément, K. Nishiguchi, J.F. Dufrêche, D. Guérin, A.Fujiwara & D. Vuillaume. Nano Letters 13(8), 3903-3908 (2013), http://dx.doi.org/10.1021/nl4019879

Contact : N. Clément (nicolas.clement@iemn.univ-lille1.fr / 03 20 19 79 32)

 

Ferry Kienberger seminar

Scanning microwave microscopy: dopant profiling, spectroscopy, and modeling'
Ferry KIENBERGER

Agilent Research Lab (Linz, Austria)
24/10/2013 at 2.00 pm - IEMN Amphitheatre

Scanning microwave microscopy (SMM) is a recent development in nanoscale imaging technique that combines the lateral resolution of atomic force microscopy (AFM) with the high measurement precision of microwave analysis at GHz frequencies. It consists of an AFM interfaced with a vector network analyzer (VNA). SMM allows to measure complex materials properties for nanoelectronics, materials science, and life science applications with operating frequencies ranging between 1 MHz and 20 GHz. Here we present the basic working principles of SMM and advanced applications. In particular, calibrated capacitance and resistance measurements are shown with a noise level of 1 aF [1]. Calibrated dopant profiles are measured from 10E14 to 10E20 atoms/cm3 for nano-electronics characterization [2].
Pointwise C-V (capacitance-voltage) spectroscopy curves were acquired allowing for the characterization of oxide quality, interface traps, and memory effects of novel materials.
Additionally, a 2D mapping workflow was established to acquire roughly 20,000 C-V curves during one image [3]. Experimental investigations are complemented by finite element radiofrequency modelling using the 3D architecture of the probe and the sample, done with the Agilent software EMPro [4].

                  

Left panel: SMM setup. The AFM is interfaced with a Vector Network Analyzer measuring the electromagnetic properties of the sample. Right panel: Topography and dopant density (dC/dV) image of a semiconductor dopant sample with different dopant concentrations for quantitative and calibrated measurements.

References: [1] H. P. Huber et al, Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope, Rev. Sci. Instrum. 81, 113701 (2010); [2] H. P. Huber et al, Calibrated nanoscale dopant profiling using a scanning microwave microscope, J. Appl. Phys. 111, 014301 (2012); [3] M. Moertelmaier et al, Continuous capacitance-voltage spectroscopy mapping for scanning microwave microscopy, Ultramicroscopy, Sept. 2013 online. [4] M. Kasper et al, Electromagnetic Simulations at the Nanoscale: EMPro Modeling and Comparison to SMM Experiments. Agilent AppNote Aug. 2013

Une ERC Starting Grant décrochée par un chercheur de l’IEMN !

Le projet, nommé UPTEG « Unconventional Principles of ThermoElectric Generation », propose de tester deux idées radicales à même de transformer le silicium en un matériau thermoélectrique ! En effet, la conversion d’énergie thermique en courant électrique par effet Seebeck reste un processus peu efficace, surtout lorsque le gradient de température disponible est modéré. Par ailleurs, les matériaux thermoélectriques usuels sont polluants, de plus en plus rares et difficilement compatibles avec les technologies standard de la microélectronique…
Pourtant, le silicium, matériau central de la microélectronique pour ses propriétés électriques, a également un coefficient thermoélectrique important mais souffre d’un  défaut majeur : une forte conductivité thermique…

Le projet proposé par Jean-François Robillard, enseignant-chercheur à l’ISEN (Institut Supérieur d’Electronique et du Numérique) et travaillant au sein du groupe Microélectronique de l’IEMN, repose sur deux approches :
Convertisseurs à Ingénierie Phononique : Il s’agit de structurer le silicium de façon périodique à l’échelle du libre parcours moyens des phonons thermiques, les principaux porteurs de chaleur. Le résultat est un « matériau artificiel » dont la conductivité thermique peut être réduite d’un facteur 100 voire 1000 tout en préservant largement ses propriétés électriques.
Convertisseurs Micro-Thermoélectroniques : Cette approche encore plus radicale, consiste à construire un générateur à partir d’électrodes de silicium fonctionnalisées grâce à un matériau à très faible travail de sortie (oxide d’alcalin) et séparées par un vide de quelques microns. Dans ce cas les pertes thermiques sont quasi-nulles et le courant est généré par thermo-émission.

Les retombées de ce travail vont de la compréhension du transport thermique à l’échelle nanométrique jusqu’à la réalisation de micro-générateurs efficaces, éventuellement flexibles et donc capables de s’adapter sur tout type de surface.
Le projet repose sur un important travail de simulation, d’ingénierie des matériaux et de technologie. Il s’appuiera sur les ressources exceptionnelles de micro et nano fabrication et de caractérisation de l’IEMN.
L’European Research Council procure un financement exceptionnel d’une durée de cinq ans et un montant de 1.5 millions d’Euros pour ce projet qui prévoit entre autres la participation de 5 doctorants et jeunes chercheurs, le financement des coûts technologiques et des actions de diffusion scientifique.

IEMN involved in the Graphène project, winner of the European "FET Flagship" programme

Retenu par la Commission Européenne comme un des projets phare, d’une ampleur sans précédent, sur les technologies du futur et émergentes, le projet Graphène, financé à hauteur de 1 milliard d’euros sur 10 ans, mobilise 15 laboratoires Français, parmi lesquels l’IEMN.

Le projet Graphène vise à développer les applications d’un matériau constitué d’une feuille de carbone dont l’épaisseur est réduite à une seule couche d’atomes : ses propriétés mécaniques et électriques exceptionnelles lui ouvrent des applications dans tous les domaines, de la microélectronique aux pièces aéronautiques. Il rassemble 126 équipes de recherche de 17 pays.

Lire le communiqué de presse


Contact:
Professeur Henri HAPPY
Tel: +33 (0)3 20 19 78 41 Fax: +33 (0)3 20 19 78 92
Courriel: henri.happy@iemn.univ-lille1.fr

IEMN is recruiting

Un Responsable des moyens « back-end » des plateformes de l’institut.

Le responsable aura la charge de l’intégration des composants dans des systèmes et de mise en boîtiers de la découpe, amincissement de wafers.

 Context :
L’IEMN est un laboratoire de recherche de 500 personnes qui joue un rôle majeur au niveau international dans le domaine de la recherche en microélectronique et nanotechnologie. Pour cela, les différentes équipes de recherche de l’institut s’appuient sur quatre plateformes technologiques de haut niveau dont la centrale de micro et nano technologies (1 600 m²).
Le poste est un support technique participant au développement et à la réalisation de systèmes électroniques qui se développe au sein des plateformes techniques et plus particulièrement dans le cadre des projets Equipex « Excelsior » et « Leaf ».

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IEMN is recruiting

A lecturer/researcher - EMC and telecommunications and a lecturer/researcher - high-performance electronics using 2D materials

A PostDoc Technology Process, MEMS/NEMS, EM and Mechanical simulations (COMSOL) and a PostDoc Hight frequency flexible electronics

-> View profiles 

ExCELSiOR Seminar Cycle - Nano-FTIR: Infrared spectroscopic chemical identification of materials at nanoscale

 - The NeaSNOM Microscope
- Nano-FTIR: Infrared spectroscopic chemical identification of materials at nanoscale".
by Dr. Andreas HUBER from Neaspec GmbH

F. Huth1,2, A. Govyadinov2, S. Amarie1, W. Nuansing2, A.J. Huber1, F. Keilmann3, and R. Hillenbrand2,4.
1 Neaspec GmbH, Martinsried, Germany; 2 CIC Nanogune Consolider, Donostia-San Sebastian, Spain; 3 Dept. of Physics and CeNS, Ludwigs-Maximilians-Universität, Garching, Germany; 4 IKERBASQUE, Basque Foundation for Science, Bilbao, Spain. andreas.huber@neaspec.com

Fourier-transform infrared (FTIR) spectroscopy is an established technique for characterization and recognition of inorganic, organic and biological materials by their far-field absorption spectra in the infrared (IR) fingerprint region. However, due to the diffraction limit conventional FTIR spectroscopy is unsuitable for nanoscale resolved measurements.
We recently applied the principles of FTIR to scattering-type Scanning Near-field Optical Microscopy (s-SNOM) [1]. s-SNOM employs an externally-illuminated sharp metallic tip to create a nanoscale hot-spot at its apex which greatly enhances the near-field interaction between the probing tip and the sample. The light backscattered from the tip transmits the information about this near-field interaction to the far zone where the FTIR spectra can be recorded. The result is a novel nano-FTIR technique, which is able to perform near-field spectroscopy and imaging with nanoscale resolution.
Here we demonstrate Fourier-transform infrared nano-spectroscopy (nano-FTIR) based on a scattering-type scanning near-field optical microscope (s-SNOM) equipped with a coherent-continuum infrared light source. We show in that the method can straightforwardly determine the infrared absorption spectrum of organic samples with a spatial resolution of 20 nm. Corroborated by theory, the nano-FTIR absorption spectra correlate well with conventional FTIR absorption spectra, as experimentally demonstrated with PMMA samples (Fig. 1). Nano-FTIR can thus make use of standard infrared databases of molecular vibrations to identify organic materials in ultra-small quantity and at ultrahigh spatial resolution. As an application example we demonstrate the identification of a nanoscale PDMS contamination on a PMMA sample.

 

 

Fig. 1: In the topography image (left), a small sample contaminant (B) can be found next to a thin film of PMMA (A) on a Si substrate (dark region). In the mechanical phase image (middle) the contrast already indicates that the particle consists of a different material than the film and the substrate. Comparing the nano-FTIR absorption spectra at the positions A and B (right panel) with standard IR databases reveals the chemical identity of the film and the particle.

We envision that nano-FTIR will become a powerful tool for chemical identification of nanostructures, for investigating local structural properties (i.e. defects, strain) of crystalline and amorphous nanostructures, as well as for non-invasive measurement of the local free-carrier concentration and mobility in doped nanostructures.

[1] F. Huth, M. Schnell, J. Wittborn et al, Nat. Mater. 10, 352 (2011).
[2] S. Amarie, P. Zaslanky, Y. Kajihara et al, Beilstein J. Nanotechnol. 3, 312 (2012).
[3] F. Huth, A. Govyadinov, S. Amarie et al, Nano Lett 12, 3973 (2012).

www.excelsior-ncc.eu