Seminar : Méthodologies nouvelles de microscopie à force atomique pour la biologie et les sciences des matériaux
Frédéric Eghiaian
société JPK Instruments AGLe 1 juin 2018 à 10h30
IEMN Salle du Conseil – Villeneuve d’Ascq
Abstract:
Initialement développée pour les sciences physiques, la microscopie à force atomique (AFM) a connu un essor faisant d’elle un outil incontournable pour les caractérisations de surfaces dans de nombreux domaines allant des sciences des matériaux à la biologie. Parallèlement à l’apparition récente de méthodes ‘multi-modales’ pour la cartographie topographique, mécanique et électrique sur une gamme variée d’échantillons, l’émergence du champ de la mécano-biologie a imposé l’AFM comme une méthode majeure de caractérisation pour les sciences du vivant. Ces progrès introduisent la nécessité d’un contrôle environnemental varié, une vitesse d’acquisition accrue et une plus grande simplicité d’utilisation.
JPK Instruments propose une solution polyvalente et simple d’utilisation – le JPK NanoWizard – pour les caractérisations topographiques, électriques, et mécaniques sous contrôle environnemental, dans en milieu gazeux ou liquide. Je vous présenterai le principe de fonctionnement du NanoWizard et ses différents couplages possibles avec des modules de contrôle environnemental (température de -120 à 300°C entre autres), microscopies optiques avancées (dont STED) et pinces optiques, avec leurs applications en imagerie multimodale ‘QI-mode’, entre autres. JPK Instruments propose également des solutions spécifiques aux mesures de faibles forces sur la matière molle, ces solutions pouvant être couplées à l’AFM. Je vous présenterai enfin le mode de fonctionnement à haute vitesse de balayage, permettant l’obtention d’images à haute résolution sur des durées de l’ordre de 1-10s, ou sous la seconde avec le NanoWizard ULTRA Speed.
