Seminar : Méthodologies nouvelles de microscopie à force atomique pour la biologie et les sciences des matériaux
Frédéric Eghiaian société JPK Instruments AG Le 1 juin 2018 à 10h30 IEMN Salle du Conseil – Villeneuve d’Ascq Abstract : Initialement développée pour les sciences physiques, la microscopie à force atomique (AFM) a connu un essor faisant d’elle un outil incontournable pour les caractérisations de surfaces dans de nombreux domaines allant des sciences des […]