Caractérisation statique et hyperfréquence petit signal
La centrale de caractérisation est équipée de nombreux analyseurs de réseaux vectoriels permettant d’effectuer la caractérisation hyperfréquence en régime petit signal de composants actifs ou passifs sous pointe jusque 220GHz ou en cellule jusque 67GHz.
Un banc de mesure entièrement automatisé permet d’effectuer les mesures en régime statique et hyperfréquence de composants sous pointes jusque 50GHz en régime pulsé avec un analyseur de réseaux vectoriel et des générateurs d’impulsions. Ces mesures peuvent être faites à partir de différents points de repos (classe A, B, AB) afin d’étudier les effets thermiques et les effets de pièges. Usuellement, des largeurs d’impulsions de l’ordre de 100ns sont utilisées pour une période de 10μs (taux de remplissage : 1%).
