Présentation de la plateforme Microscopie en champ proche
Vendredi 31 mars 2017 à 9:00 Amphithéâtre du LCI IEMN Ce séminaire est destiné aux membres du laboratoire souhaitant (mieux) connaitre la plateforme et les possibilités offertes pour l’analyse de surfaces, de composants et de nanostructures jusqu’à l’échelle atomique à l’aide des instruments AFM (microscope à force atomique) et STM (microscope à effet tunnel). Programme prévisionnel […]





