Vendredi 31 mars 2017 à 9:00
Amphithéâtre du LCI IEMN

Ce séminaire est destiné aux membres du laboratoire souhaitant (mieux) connaitre la plateforme et les possibilités offertes pour l’analyse de surfaces, de composants et de nanostructures jusqu’à l’échelle atomique à l’aide des instruments AFM (microscope à force atomique) et STM (microscope à effet tunnel).

Programme prévisionnel :

• 9:00 : Introduction « Scanning Probe Microscopy » Dominique Deresmes
• 9:15 : La microscopie à force atomique à l’IEMN Dominique Deresmes
• 9:35 : Mesures AFM en liquide pour la caractérisation de matériaux actifs Alexis Vlandas
• 9:55 : Mesures des propriétés électriques à l’échelle de la molécule par microscopie champ proche Stéphane Lenfant
• 10:15 : Café
• 10:35 : La microscopie à effet tunnel à l’IEMN Maxime Berthe
• 10:55 : Exemples et applications de la microscopie à effet tunnel Bruno Grandidier

CONTACT :
Maxime Berthe
Ingénieur de Recherche – Plateforme Champ Proche
Tél : +33 (0)3 2019 7863
maxime.berthe@iemn.fr