Caractérisation non linéaire

Pour mener à bien ce type de caractérisation, plusieurs bancs spécifiques ont été développés en centrale de caractérisation sur des nano-dispositifs et plus particulièrement sur des HEMTs AsGa, GaN et InP. Ces mesures peuvent étre effectuées pour différents modes d’excitation :

• mode monoton (CW)
• modes d’excitation plus complexe (multi tons).

En régime monoton (CW), nous pouvons citer à titre d’exemple, la caractérisation dans les domaines fréquentiel et temporel à l’aide :

• de banc de type « loadpull à charge passive » en utilisant un tuner automatique dans la bande de fréquences 6 à 50GHz et aux fréquences fondamentales de 60 et 94GHz.
• de banc de type « loadpull à charge active » dans les bandes de fréquences 6-18GHz et 26-40GHz.
• d’un analyseur de réseaux vectoriel non linéaire à charge active à la fréquence fondamentale dans la bande 600MHz à 20GHz.

Pour des régimes d’excitation plus complexes (signaux multitons), un banc de type « loadpull à charge passive » associé à un analyseur de spectre 40GHz a été développé afin d’effectuer des caractérisations de type Noise Power Ratio, IMR, ACPR…..