31 Janvier 2019 à l’IEMN
Campus Cité scientifique, Avenue Poincaré – Villeneuve d’Ascq
Venez avec vos échantillons !
Ce workshop gratuit se focalisera sur des moyens performants d’analyse de surface.
Matériels présentés :
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MEB de Table EM-30AX + COXEM : Imagerie + analyse chimique (EDS)
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AFM Nano-Observer CSI : Imagerie + mesures électriques (ResiScope, HD-KFM) + caractérisation mécanique (Soft IC)
L’inscription est gratuite mais tous les participants doivent s’inscrire en raison d’un nombre de place limité.
Si vous souhaitez apporter vos propres échantillons pour les sessions pratiques, merci de le préciser pour prendre les dispositions nécessaires.
Présentations
- 09h00 – Accueil
- 09h30 – Présentation de l’IEMN
- 09h45 – Présentation ScienTec
- 10h00 – Présentation AFM CSI
- 10h15 – Présentation MEB COXEM
- 10h30 – Pause café
Démonstrations
- 10h45 – Démonstrations
- 12h30 – Pause déjeuner
Manipulations
- 14h00 – Ateliers pratiques et passages d’échantillons
- 15h30 – Pause café
- 16h00 – Suite des ateliers
- 18h00 – Clôture
Contact : Jessica Duval, Scientec
