Plate-forme de Caractérisation Haute Fréquence

La plateforme de nano-caractérisation RF & MEMS certifiée ISO8 regroupe sur 900m2 les moyens communs de l’IEMN permettant la caractérisation des principaux paramètres électriques de composants et sous-systèmes électroniques dans une large gamme de fréquences.

La plupart des bancs de mesures sont modulables afin de répondre au mieux aux besoins de la recherche. Les ingénieurs de la plateforme développent les bancs dans un souci d’amélioration continue afin de travailler en adéquation avec les innovations technologiques.

La plateforme permet ainsi la caractérisation électrique vectorielle ou scalaire :

  • Du DC aux fréquences THz
  • En température (mesures cryogénique, ambiant, 500 K)
  • Sous éclairement laser ou solaire
  • Sous pointes coplanaires (on-wafer), en coaxial ou espace libre
  • En régime non linéaire et ce, entre autres, pour l’étude de :
    • Dispositifs ultra-rapides, transistors
    • Circuits
    • MEMS
  • Le couplage à des techniques de champ proche ou de spectroscopie permet la caractérisation :
    • De matériaux 2D
    • De micro-nano composants
    • De gaz, liquides, solides

Certaines expériences ont été conçues dans le but de tester électriquement les composants dans des conditions « rudes » telles qu’à basse température (5,5K) ou encore sous haute-tension (10kV).

L’expertise en caractérisation de dispositifs ultra rapides est reconnue internationalement et permet à la plateforme de jouer également un rôle très important dans les laboratoires communs créés entre l’IEMN et divers industriels français (THALES et ST Microélectronics) ou centres de recherches régionaux, nationaux ou étrangers.

Organisation

L’équipe technique composée de quatre ingénieurs expérimentés dans le domaine de la caractérisation électriques et des mesures hautes fréquences, accueille plus de 20 groupes de recherche, soutient une start-up et différents projets de valorisation.

On identifie dans cette plateforme 7 grands domaines d’expertise :

Contact : Sophie Eliet Responsable de la plateforme Caractérisation RF MEMS
sophie.eliet@iemn.univ-lille1.fr
03 20 19 79 30

Mots-clefs : Caractérisation électrique, Hyper-fréquences, micro-ondes, millimétriques, TeraHertz, MEMS, matériaux 2D, nano-composants.