Plate-forme de nano-caractérisation RF/MEMS

L’IEMN dispose d’une plateforme de nano-caractérisation RF & MEMS certifiée ISO8 qui s’étend sur plus de 600 m² et dont la mission première est de soutenir les travaux expérimentaux des équipes de recherche.

Elle regroupe et mutualise les moyens communs de l’IEMN permettant la caractérisation des principaux paramètres électriques de composants et sous-systèmes électroniques dans une large gamme de fréquences allant des très basses fréquences jusqu’à l’optique. Ces mesures électriques permettent de valider les modèles électriques et de réaliser un retour technologique.

De plus, son expertise en caractérisation de dispositifs ultra rapides est reconnue internationalement et lui permet de jouer également un rôle très important dans les divers laboratoires communs créés entre l’IEMN et divers industriels français (THALES et ST Microélectronics) ou centre de recherches Européens et internationaux.

Depuis plus de 15 ans, différentes compétences et techniques expérimentales ont été développées au sein de la plateforme. Ses compétences s’appliquent sur une très grande variété de composants hyperfréquences passifs (antennes, MEMS …) et actifs (nanodispositifs, HBT sur InP, HEMT AsGa, InP, HEMT GaN et métamorphique AsGa, MOSFET Si …), mais aussi sur des dispositifs plus complexes intégrant des fonctionnalités (MMICs, amplificateur faible bruit, échantillonneur rapide…). Ces différentes compétences et techniques expérimentales peuvent être classées en sept grands domaines d’expertise.

Enfin, la plateforme de nano-caractérisation RF/MEMS ouvre son expertise à toute demande de caractérisations et mesures provenant des laboratoires académiques ou industriels. Rendez vous dans l’onglet Prestations – Projets.

Statique – Petit Signal – Bruit

Non Linéaire – Thermographie

Nano caractérisation

AFM/MEMS

Photonique

Quasi-optique/Millimétrique

Cryogénique ou Haute Température

Prestations – Projets

Contact: Sophie Eliet , Responsable de la plateforme

Mots clés: Espace libre, Sous pointes, RF-MEMs, AFM, Photonique, THz, Quasi-optique/Millimétrique, Mesures en température,…

Domaines applicatifs: Energie, Micro-NanoElectronique, Bruit,