Plate-forme de Microscopie en Champ Proche

La plate-forme de microscopie en champ proche réunit les moyens dédiés à l’analyse topographique, physique et électrique de surfaces de 100µm jusqu’à l’échelle atomique.

L’apparition de cette technique d’investigation directe à l’échelle nanométrique est à l’origine de l’émergence des nanosciences et des nanotechnologies. Dès sa création en 1993, l’IEMN a décidé de se doter de ces équipements pour imager, manipuler et caractériser atomes et objets nanométriques. Aujourd’hui, la plate-forme est installée sur 400m² dans un bâtiment dédié, achevé en 2015, offrant des conditions expérimentales exceptionnelles.

Nos instruments couvrent un large spectre de possibilités pour la mesure directe de phénomènes à l’échelle nanométrique : AFM à l’air et modes dérivés, AFM/STM en Ultra-vide, nano-manipulation, mesures (multi-pointes) de transport à l’échelle nanométrique, combinaison MEB/STM/AFM. La plate-forme de microscopie en champ proche est dévolue au support des activités de recherche de l’IEMN; elle est également ouverte à toute demande externe de prestation ou collaboration, académique ou industrielle, via le réseau RENATECH.

Contact: Dominique Deresmes, Responsable de la plate-forme

Mots clés: Microscopie 3D, SPM, STM, AFM, Résolution sub-nanométrique, Nanocaractérisation physique, Renatech

Domaines applicatifs: Nanosciences, Physique des surfaces, des matériaux et des nanostructures, Chimie des surfaces