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Supra 55 VP

Qu’ils soient utilisés lors de contrôles non destructifs en cours de fabrication ou lors de caractérisations avancées de procédés, la centrale CMNF dispose d’une large palette d’équipements de caractérisation de micro-nanostructures et de composants. Nos nombreux outils de caractérisation permettent de sonder des propriétés optiques, électriques, mécaniques pour des observations à différentes échelles: nanométrique à macroscopique, surface à bulk… Ces équipements permettent de caractériser les différentes opérations technologiques telles que dépôts, gravures, recuits, permettent de mesurer des épaisseurs, de contrôler l’état de surface, la morphologie et les dimensions des motifs réalisés.

Contact: Bertrand Grimbert

Personnel: Christophe Boyaval , Yves Deblock, Bertrand Grimbert, David Troadec, Christophe Coinon, Jean Louis Codron, Dominique Vignaud, Xavier Wallart

Mots clés:  optique, électrique, mécanique, topographie, physique, chimique, structural,…