Plate-forme de nano-caractérisation RF/MEMS

L’IEMN dispose d’une plateforme de nano-caractérisation RF & MEMS certifiée ISO8 qui s’étend sur plus de 600 m² et dont la mission première est de soutenir les travaux expérimentaux des équipes de recherche.

Elle regroupe et mutualise les moyens communs de l’IEMN permettant la caractérisation des principaux paramètres électriques de composants et sous-systèmes électroniques dans une large gamme de fréquences allant des très basses fréquences jusqu’à l’optique. Ces mesures électriques permettent de valider les modèles électriques et de réaliser un retour technologique.

De plus, son expertise en caractérisation de dispositifs ultra rapides est reconnue internationalement et lui permet de jouer également un rôle très important dans les divers laboratoires communs créés entre l’IEMN et divers industriels français (THALES et ST Microélectronics) ou centre de recherches Européens et internationaux.

Enfin, la plateforme de nano-caractérisation RF/MEMS ouvre son expertise à toute demande de caractérisations et mesures provenant des laboratoires académiques ou industriels. Rendez vous dans l’onglet Prestations – Projets.

Statique – Petit Signal – Bruit

Non Linéaire – Thermographie

Nano caractérisation

AFM/MEMS

Photonique

Quasi-optique/Millimétrique

Cryogénique ou Haute Température

Prestations – Projets

Contact: Sylvie Lepilliet , Responsable de la plate-forme

Mots clés: Espace libre, Sous pointes, RF-MEMs, AFM, Photonique, THz, Quasi-optique/Millimétrique, Mesures en température,…

Domaines applicatifs: Energie, Micro-NanoElectronique, Bruit,